Ürünler

IEC 62368-1 Şekil V.3 Test Parmak Probu IEC60950 Şekil 2C ile Telekom Test Probu

Telekom test probu IEC60950 şekil 2C ve UL6500 şekil B.1 standartlarına uygundur. Bilgi teknolojisi ekipmanlarının TNV devrelerinin çıplak kısımlarında yeterli korumaya sahip olup olmadıklarını görmek için kullanılır.

Öğe Hayır. :
HT-I23
Minimum Sipariş Miktarı (MOQ) :
1 set
Ödeme yöntemi :
T/T
Fiyat :
Negotiatable
Ürün oranı :
China
Tedarik Yeteneği :
100 set/ month
Kurşun zamanı :
3 Days
Geleneksel ambalaj :
Aluminum Box

ŞİMDİ SORUŞTUR

Ürün Detayları

IEC 62368-1 Şekil V.3 Test Parmak Probu IEC60950 Şekil 2C ile Telekom Test Probu

Standart açıklama(IEC 62151 4.2.2.1):

4.2.2.1 Erişilebilirlik
Ekipman, KULLANICI ERİŞİM ALANLARINDA TNV-1, TNV-2 ve TNV-2'nin çıplak parçalarıyla temasa karşı yeterli koruma sağlayacak şekilde inşa edilmelidir.
TNV - 3 DEVRE ancak aşağıdakilere erişim izni verilir:
– test probu tarafından dokunulamayan konnektörlerin kontakları (Şekil 3);
– 4.2.2.2'ye uygun pil bölmesinin iç kısmında çıplak iletken parçalar;
– TNV'nin çıplak iletken parçaları - 1
KORUYUCU TOPRAKLAMA terminaline bağlı DEVRELER;
SERVİS ERİŞİM ALANLARINDA, TNV-1, TNV-2 veya TNV-3 DEVRELERİNE erişim konusunda herhangi bir gereklilik belirtilmemiştir, ancak TEHLİKELİ - CANLI - PARÇALAR, mevcut olabilecek iletken malzemeler tarafından istenmeyen köprüleme olasılığı düşük olacak şekilde yerleştirilmeli veya korunmalıdır.
4.2.2.1'e uyum için gerekli olan tüm koruyucular, servis için çıkarılması gerektiğinde kolayca çıkarılabilir ve değiştirilebilir olmalıdır.
SINIRLI ERİŞİM YERLERİNDE TNV-1, TNV-2 veya TNV-3 DEVRELERİNE erişim konusunda herhangi bir gereklilik belirtilmemiştir.
Ancak, TEHLİKELİ - CANLI - PARÇALAR, örneğin SERVİS PERSONELİ tarafından kullanılan ARAÇLAR veya test probları tarafından TNV DEVRELERİNE kazara kısa devre yapılmasının olası olmadığı şekilde yerleştirilmeli veya korunmalıdır. 4.2.2.1'e uyum için gereken tüm korumalar, servis için çıkarılması gerekirse kolayca çıkarılabilir ve değiştirilebilir olmalıdır.
Uygunluk, muayene, ölçüm ve ilgili ekipman standardının uygunluk bölümünde belirtildiği şekilde uygulanan test parmağı (IEC 61032, test probu B) ve test probu vasıtasıyla kontrol edilir, Şekil 3.

Standart:IEC 62368-1:2018 madde 5.3.2 ve Şekil V.3, IEC60950 şekil 2C, IEC60065:2014 Ek B, Test Probu. IEC 62151 Şekil 3 ve UL6500 şekil B.1'e göre.

Başvuru:Bilişim teknolojileri ekipmanlarının TNV devrelerinin çıplak kısımlarının yeterli korumaya sahip olup olmadığını kontrol etmek amacıyla kullanılır.

Test örneği:Bilişim Teknolojileri Ekipmanları.

Özellik:Naylon sap + paslanmaz çelik prob.

Parametreler: